電子回路に組み込まれたダイオードの損失測定について考えます．ダイオードの損失電力は，ダイオードに流れる電流とダイオード端に印可される電圧の積から求めることができます．

損失電力の測定の場合，V_FとI_Fとをそれぞれ計測して単純に積を求めればいいのですが，測定が難しい場合もあります．たとえば，V_Fの大きさに対し比較的大きな電圧を整流する場合，オシロなど測定器のレンジの都合によってはV_Fを精度よく測定できません．（順方向バイアスは大きくても数ボルトですが，逆バイアスは特に際限はないので数百，数千ボルトのレンジを必要とする場合もあります）．

そのような場合に，実測のI_Fから式3-2-5を使ってV_Fを間接的に算出して損失電力を求める方法があります．その場合あらかじめ，被測定ダイオードのI-V 特性を予備測定し，式3-2-5の各パラメータを求めておく必要があります．

その上で，I_Fの時系列の離散データを取得し，V_Fおよび損失電力を算出していきます．式3-2-5についてI_F を引数とした V_Fの関数に変形しておきます．

図3-2-33 ダイオード単体のI-V特性

さらに，SPECからVfの最大値（特性）を設定して最大損失を換算することも可能ですし，Tj 変動の予測をTj を引数とした関係式として算出することも可能です．

図3-2-34 v，i，Vf，損失電力波形

しかし，上記にもふれたTj を引数としたIf - Vf 関係式が設定できれば，理論上の最大損失の算定，最大Tj の算定など広い応用することができます．また，複雑な通電条件等あらかじめ設定されていてその条件に即した損失設計をする場合にも有効です．